太陽(yáng)能電池規(guī)范
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IEC61646
(薄膜太陽(yáng)能) |
IEC61215
(晶硅太陽(yáng)能) |
UL1703
(晶硅太陽(yáng)能) |
整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
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熱循環(huán)、濕冷凍
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熱循環(huán)、濕冷凍
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熱循環(huán)、濕冷凍
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監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性
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熱循環(huán)、濕冷凍
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熱循環(huán)、濕冷凍
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整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度
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熱循環(huán)、濕冷凍
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熱循環(huán)
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熱循環(huán)、濕冷凍
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并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。
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熱循環(huán)、濕冷凍
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熱循環(huán)
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熱循環(huán)、濕冷凍
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絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求
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熱循環(huán)、濕冷凍、
濕熱試驗(yàn) |
熱循環(huán)、濕冷凍、
濕熱試驗(yàn) |
熱循環(huán)、濕冷凍
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施加電流等于測(cè)試模塊之STC功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電,模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)
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熱循環(huán)
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測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
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熱循環(huán)、濕冷凍
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熱循環(huán)、濕冷凍
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